微轨迹MRB |颗粒尺寸和形状分析

瑞士万通Microtrac标志
Microtrac MRB(前身Retsch Technology)开发和销售最先进的光学测量系统,用于颗粒尺寸和颗粒形状分析。Microtrac MRB颗粒分析仪,基于不同的测量技术,允许颗粒表征悬浮液,乳剂,胶体系统,粉末,颗粒和散装材料的尺寸范围从0.3 nm到30mm。
  • 动态图像分析
  • 静态图像分析
  • 激光散射/Zeta势
  • 气体吸附测量

动态图像分析

动态图像分析

动态图像分析(Dia)是一种用于粉末,颗粒和悬浮液的粒度和形状表征的强大最新方法。由于专利的双摄像机技术,这些分析仪分别覆盖了20μm至30 mm和0.8μm至8mm的宽动态测量范围。



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激光衍射

激光衍射

Microtrac 40多年来一直是激光衍射仪器的全球领导者,通过不断改进仪器技术,我们为客户提供了一个强大的激光衍射仪器组合,是颗粒尺寸和表征的理想选择。




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动态光散射

动态光散射/Zeta势

Microtrac MRB采用了一种创新的动态光散射(DLS)方法,使用专有的探针设计来传递和收集光。通过将激光探头聚焦在材料界面上,Microtrac结合了短路径长度、参考拍和180°后向散射的优点,提供了最佳的精度、分辨率和灵敏度。

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静态图像分析

静态图像分析

CAMSIZER M1利用静态图像分析的测量原理来确定0.5 ~ 1500 μm范围内的颗粒尺寸和颗粒形状。该分析仪的基础是一台功能强大的显微镜,其硬件和软件都经过优化,可用于自动粒子分析。



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